Transmisyjny Mikroskop Elektronowy HRTEM Jeol ARM 200F
Podstawowe parametry techniczne
- Maksymalne napięcie przyspieszające: 200 kV
- Maksymalna rozdzielczość: 0.63 Å
- Możliwości obserwacji w trybie TEM oraz STEM
- Detektory: Bright, Dark Field Detector, High-Angle Annular Dark Field Detector
- Spektroskopia: Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS), Electron Energy-Loss, Spectroscopy (EELS)
Zakres badań
- Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery)
- Obrazowanie materiałów półprzewodnikowych
- Analiza składu chemicznego
- Dyfrakcja elektronowa
Transmisyjny Mikroskop Elektronowy 120kV
Podstawowe parametry techniczne
Maksymalne napięcie przyspieszające: 120 kV
Maksymalna rozdzielczość: 0.2 nm
Uchwyt do badań krioTEM (w temperaturze ciekłego azotu)
Zakres badań
Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery)
Obrazowanie materii miękkiej (polimery, koloidy) w trybie krioTEM oraz układów biologicznych
Obrazowanie 3D
Tomografia TEM
Skaningowy Mikroskop Elektronowy SEM Jeol 7001TTLS
Podstawowe parametry techniczne
Maksymalne napięcie przyspieszające: 30 kV
Maksymalna rozdzielczość: 1.5 nm
Zestaw akcesoriów do badań krioSEM (w temperaturze ciekłego azotu)
Spektroskopia: Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS)
Zestaw do elektronolitografii
Zakres badań
Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery, itp.)
Obrazowanie układów porowatych
Obrazowanie materii miękkiej i układów biologicznych
Nanościeniarka (Focused Ion Beam – FIB)
Podstawowe parametry techniczne
- Źródło jonów: Ga
- Maksymalna rozdzielczość obrazu w trybie podglądu: 5 n
- Maksymalny prąd wiązki: 60 nA przy 30 kV
Zastosowanie
- Przygotowanie próbek do TEM i SEM
- Litografia
Lista urządzeń wykorzystywanych w preparatyce próbek
- Urządzenia do suszenia w punkcie krytycznym
- Urządzenie do witryfikacji próbek (CryoPlunge)
- Ultramikrotom (z opcją krio)
- Napylarka próżniowa
- Ultramikrotom
