Jesteś tutaj

Mikroskopia Elektronowa


Transmisyjny Mikroskop Elektronowy HRTEM Jeol ARM 200F

Podstawowe parametry techniczne

  • Maksymalne napięcie przyspieszające: 200 kV
  • Maksymalna rozdzielczość: 0.63 Å
  • Możliwości obserwacji w trybie TEM oraz STEM
  • Detektory: Bright, Dark Field Detector, High-Angle Annular Dark Field Detector
  • Spektroskopia: Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS), Electron Energy-Loss, Spectroscopy (EELS)
 

Zakres badań

  • Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery)
  • Obrazowanie materiałów półprzewodnikowych
  • Analiza składu chemicznego
  • Dyfrakcja elektronowa

Transmisyjny Mikroskop Elektronowy 120kV

Podstawowe parametry techniczne

  • Maksymalne napięcie przyspieszające: 120 kV

  • Maksymalna rozdzielczość: 0.2 nm

  • Uchwyt do badań krioTEM (w temperaturze ciekłego azotu)

 

Zakres badań

  • Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery)

  • Obrazowanie materii miękkiej (polimery, koloidy) w trybie krioTEM oraz układów biologicznych

  • Obrazowanie 3D

  • Tomografia TEM


Skaningowy Mikroskop Elektronowy SEM Jeol 7001TTLS

Podstawowe parametry techniczne

  • Maksymalne napięcie przyspieszające: 30 kV

  • Maksymalna rozdzielczość: 1.5 nm

  • Zestaw akcesoriów do badań krioSEM (w temperaturze ciekłego azotu)

  • Spektroskopia: Energy Dispersive X-Ray  Spectroscopy (EDS)

  • Zestaw do elektronolitografii

     

Zakres badań

  • Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery, itp.)

  • Obrazowanie układów porowatych

  • Obrazowanie materii miękkiej i układów biologicznych


Nanościeniarka (Focused Ion Beam – FIB)

Podstawowe parametry techniczne

  • Źródło jonów: Ga
  • Maksymalna rozdzielczość obrazu w trybie podglądu: 5 n
  • Maksymalny prąd wiązki: 60 nA przy 30 kV
 

Zastosowanie

  • Przygotowanie próbek do TEM i SEM
  • Litografia

Lista urządzeń wykorzystywanych w preparatyce próbek

  • Urządzenia do suszenia w punkcie krytycznym
  • Urządzenie do witryfikacji próbek (CryoPlunge)
  • Ultramikrotom (z opcją krio)
  • Napylarka próżniowa
  • Ultramikrotom

Kontakt | Baza kontaktów | RSS | Login
© 2017 CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE UAM | ul. Umultowska 85, PL61614 Poznań, Poland | tel.+48 61 829 67 04.

Developed by drupalninja.pl