• Aktualności

    • Habilitacja Pana Dra Mikołaja Lewandowskiego

      10.06.2020

      W dniu 09.06.2020 Rada Dyscyplin Naukowych Astronomia oraz Nauki Fizyczne na Wydziale Fizyki i Astronomii Uniwersytetu Wrocławskiego podjęła uchwałę o nadaniu dr. Mikołajowi Lewandowskiemu stopnia doktora habilitowanego w dziedzinie nauk fizycznych w dyscyplinie fizyka.

    • NEKROLOG

      17.04.2020

      Ceremonia pogrzebowa odbędzie się 22 kwietnia 2020 roku o godz. 11:50 na Cmentarzu Junikowskim w Poznaniu

    • Widzialna ręka - UAM

      31.03.2020

      W odpowiedzi na prośbę Pani Prof. dr hab. Bogumiły Kaniewskiej, Prorektor ds. studenckich UAM, w ramach akcji "Widzialna ręka - UAM” Centrum NanoBioMedyczne Uniwersytetu Adama Mickiewicza w Poznaniu przekazało środki ochrony osobistej oraz środki do dezynfekcji Oddziałowi Anestezjologii i Intensywnej Terapii oraz Ortopedii i Traumatologii Narządu Ruchu Szpitala Wojewódzkiego w Poznaniu przy ul. Juraszów 7-19

    • Wszystkie Aktualności

Znaczące publikacje

Nano Lett., 2017, DOI: 10.1021/acs.nanolett.7b03669
B. Graczykowski, M. Sledzinska, M. Placidi, D. Saleta Reig, M. Kasprzak, F. Alzina, C. M. Sotomayor Torres

Elastic Properties of Few Nanometers Thick Polycrystalline MoS2 Membranes: A Nondestructive Study

The performance gain-oriented nanostructurization has opened a new pathway for tuning mechanical features of solid matter vital for application and maintained performance. Simultaneously, the mechanical evaluation has been pushed down to dimensions way below 1 μm. To date, the most standard technique to study the mechanical properties of suspended 2D materials is based on nanoindentation experiments. In this work, by means of micro-Brillouin light scattering we determine the mechanical properties, that is, Young modulus and residual stress, of polycrystalline few nanometers thick MoS2 membranes in a simple, contact-less, nondestructive manner. The results show huge elastic softening compared to bulk MoS2, which is correlated with the sample morphology and the residual stress.
Wszystkie Publikacje

Najnowszy film

XRAY DIFFRACTION

XRAY diffraction 23.11.2018

Wszystkie filmy
  • Ogłoszenia

      Wszystkie ogłoszenia

Kontakt | Baza kontaktów | RSS | Login
© 2020 CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE UAM | ul. Wszechnicy Piastowskiej 3, PL 61614 Poznań, Poland | tel.+48 61 829 67 04.