Pracownia Mikroskopii Sił Atomowych


I. Podstawy teoretyczne techniki

  • Czas trwania : 2 godziny
  • Mikroskopia ze Skanującą Sondą SPM (ang. Scaning Probe Microscopy) oraz jej różne odmiany m.in. technika Mikroskopii Sił Atomowych (ang. Atomic Force Microscopy) i Skaningowy Mikroskop Tunelowy (ang. Scanning Tunneling Microscopy) na tle innych technik badawczych układów w nanoskali. 
  • Omówienie zasady działania mikroskopu AFM :
    • Podstawy fizyczne mikroskopii SPM oraz uzyskiwania informacji na temat topografii powierzchni poprzez rejestrowanie siły oddziaływania międzyatomowego (AFM) i prądu tunelowego (STM) w funkcji położenia
    • Tryby pracy mikroskopu AFM (tryb kontaktowy, bezkontaktowy i z przerywanym kontaktem)
    • Budowa i zasada działania skanera piezoelektrycznego, pętla sprzężenia zwrotnego
    • Mikrobelki AFM. Zależność kształtu sondy a rozdzielczość uzyskiwanych obrazów
  • Rozszerzenie możliwości mikroskopu AFM – techniki specjalne
    • Mikroskopia sił magnetycznych (MFM, ang. Magnetic Force Microscopy), Mikroskopia sił poprzecznych (LFM, ang. Lateral Force Microscopy), Mikroskopia z modulacją siły (FMM, ang. Force Modulation Microscopy), Mikroskopia wykrywająca przesunięcie fazowe (PDM, ang. Phase Detecton Microscopy), Skaningowa Mikroskopia Pojemnościowa(SCM, ang. Scanning Capacitance Microscopy), Skaningowa Mikroskopia Optyczna Bliskiego Pola (SNOM, ang. Scanning Near-field Optical Microscopy), Rozpraszanie Ramana wzmocnione tipem (TERS, ang. Tip enhanced Raman Spectroscopy) i inne.
  • Najnowsze i najciekawsze zastosowanie mikroskopii AFM w badaniach materiałów nie-biologicznych i biologicznych 


II. Zapoznanie się z obsługą mikroskopu Dimension ICON firmy Bruker oraz procedurą przygotowania próbek, sond i doborem odpowiednich parametrów obrazowania

  • Czas trwania : 6 godzin
  •  Wybór i instalację sond w uchwytach 
  • Montaż uchwytu sondy na głowicy AFM
  • Zapoznanie się z oprogramowanie sterującym mikroskopu: Nanoscope 8
  • Przygotowanie i strojenie sondy do pracy 
  • Przygotowanie i umiejscowienie wybranych próbek na stoliku mikroskopu
  • Uruchomienie mikroskopu i skanowanie próbek w trybie kontaktowym i przerywanym kontaktem
  • Rejestrowanie obrazów dla jak największych możliwych powiększeń i optymalizacja parametrów skanowania
    • W trakcie szkolenia studenci będą mieli możliwość zbadania topografii powierzchni różnorakich materiałów (np. siatki kalibracyjne, PS+LPDE blend, PDMS, HOPG, PS, nośniki zapisu optycznego i magnetycznego, materiał biologiczny) oraz ich wł. lepkosprężystych czy też magnetycznych. Przedstawione i wykorzystane zostaną różne tryby pracy m.in. tryb kontaktowy (Contact Mode), z przerywanym kontaktem (Tapping Mode), do obrazowania wł. mechanicznych (Quantitive Nanomechanical Mapping, ScanAssyst) i magnetycznych (Magnetic Mode).
  • Wycofanie ostrza, zakończenie pomiarów i odpowiednie zakończenie pracy z mikroskopem 

 

III. Analiza zebranych wyników pomiarowych

  • Czas trwania : 2 godziny
  • Zapoznanie się z oprogramowaniem Nanoscope Analysis
  • Obróbka komputerowa uzyskanych obrazów powierzchni
  • Interpretacja uzyskanych obrazów
  • Błędy odwzorowania oraz wyjaśnienie jak ich unikać

Kontakt | Baza kontaktów | RSS | Login
© 2017 CENTRUM NANOBIOMEDYCZNE UAM | ul. Umultowska 85, PL61614 Poznań, Poland | tel.+48 61 829 67 04.

Developed by drupalninja.pl